單晶X衍射分析方法概述

單晶X衍射分析方法概述

單晶X射線衍射分析法主要用于晶體結(jié)構(gòu)測(cè)定。晶體結(jié)構(gòu)測(cè)定的最后結(jié)果是獲取晶胞的空間群、晶胞常數(shù)和一套晶胞中每個(gè)原子位置的參數(shù)，并用結(jié)構(gòu)模型圖顯示。從結(jié)構(gòu)分析結(jié)果看，可以很容易得到鍵長(zhǎng)、鍵角、配位數(shù)等晶體化學(xué)數(shù)據(jù)。利用單晶衍射分析獲得的高分辨電子密度分布圖還可以進(jìn)一步研究結(jié)構(gòu)中價(jià)電子的分布、原子或離子的大小、鍵型等等。測(cè)厚儀| 測(cè)速儀| 轉(zhuǎn)速表| 壓力表| 壓力計(jì)| 真空表| 硬度計(jì)| 探傷儀| 電子稱(chēng)| 熱像儀